隨著計算機技術和微電子技術的發(fā)展，自上世紀 70 年代中后期，測試儀器儀表逐漸與計算機相結合，通過對應的接口總線，將測試數(shù)據(jù)傳輸至計算機進行存儲和處理。技術發(fā)展到 20 世紀 90 年 代，出現(xiàn)了高性能的數(shù)據(jù)采集 AD 芯片，此時數(shù)據(jù)采集的精度、速率、分辨率等參數(shù)得到 了大幅提升。而數(shù)據(jù)傳輸總線，也隨著計算機和通訊技術的進步逐漸成熟和應用。典型的數(shù)據(jù)采集通訊方式有 VXI 總線、PCI 總線、PXI 總線、RS 串口通訊、TCP 網(wǎng)絡通訊等，以 及高速 PXIE數(shù)據(jù)總線（PXI?Express）。PXI Express相對PXI顯著的改進和優(yōu)勢就在于它融入PCI Express的特點，采用串行傳輸，點到點的總線拓撲結構。不同于PXI在所有總線設備間分享帶寬，PXI Express為每一個設備提供單獨的傳輸通道。

PXIE基于是Compact PCI標準，增加了時鐘和同步觸發(fā)總線，但其核心仍然是PCI總線。PXI Express為每一個設備提供單獨的傳輸通道。同時它所增加的時鐘和同步觸發(fā)信號以及擁有特殊的接口物理特性使得其在測量、通信、工業(yè)自動化等領域擁有更大的技術優(yōu)勢。

數(shù)據(jù)采集需求及發(fā)展趨勢：

隨著測試研發(fā)測點數(shù)量不斷增多，測試信號類型不斷豐富，且采樣速率要求越來越高， 研發(fā)人員對采集設備的要求也不斷提升,例如：

? 設備支持不同類型傳感器，一套設備可完成不同實驗/突發(fā)測試/現(xiàn)場排故等工作； 

? 高采樣率/高分辨率，用于精確捕捉測試過程中的動態(tài)信號； 

? 通道間同步精度高、信號無相差，以保證不同測點數(shù)據(jù)的同步性以及時統(tǒng)一致性； 

? 機箱數(shù)據(jù)總線傳輸速率和存儲速率高，可組成大通道測試平臺； 為滿足新的大型測試平臺、數(shù)據(jù)中心、功能二次開發(fā)以及定制化測試報告等發(fā)展趨勢：

? 不同機箱間可實現(xiàn)多種方式的同步，構建大型測試系統(tǒng)，且設備之間保持同步；

? 數(shù)據(jù)交互和軟件握手靈活，實驗數(shù)據(jù)可以發(fā)送、匯總至上位機或者數(shù)據(jù)處理中心； 

? 設備智能/開放，便于研發(fā)人員進行功能二次開發(fā)和定制。 

面對上述要求，PXIe 總線結構更加適合大通道機箱的架構，在保證大通道的前提下， 實現(xiàn)高速數(shù)據(jù)傳輸存儲，并保證 PXIe 總線上所有通道的時鐘同步性。德維創(chuàng)DEWETRON的第三代DEWE3系列機箱配備高速TRION3系列板卡，可以實現(xiàn)上述對設備的需求。 接下來我們將在下一篇文章闡述 DEWETRON 如何基于PXIe 總線實現(xiàn)上述需求，并將結合實際應用和案例描述德維創(chuàng)DEWETRON 的優(yōu)勢。

DEWETRON 基于 PXI/E 架構的主機箱和測試板卡，可以滿足客戶幾乎所有物理信號 /數(shù)字信號/總線信號的高速采集。結合開放性的硬件和軟件，以及多種數(shù)據(jù)傳輸方式和遠程 傳輸控制功能，可以滿足客戶對于數(shù)據(jù)中心、課題成果、項目開發(fā)、功能定制、實驗報告 等不同功能需求。 

德維創(chuàng)多功能/高速/開放/的測試系統(tǒng)，將為您帶來如下便捷功能及能力提升： 

? 振動、應變、溫度、壓力、電壓、電流、電荷、電阻等信號高速采集存儲；

? 信號采集精度高，運行穩(wěn)定； 

? 模塊化設計，適應不同測試需求；

? 板卡，一卡多用，支持不同物理量及傳感器；

? 采集分析軟件，功能齊全，適合各種數(shù)據(jù)采集及分析需求；

? 采集數(shù)據(jù)高速存儲；

? 設備級聯(lián)，大系統(tǒng)構建；

? 快速穩(wěn)定的數(shù)據(jù)傳輸，保障數(shù)據(jù)中心建設；

? 開放的硬件和軟件，支持二次開發(fā)和功能定制； 

? 測試流程化、實驗標準化、報告格式化。